Рақами Қисм :
SN74ABT8652DWRG4
Истеҳсолкунанда :
Texas Instruments
Тавсифи :
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
Навъи мантиқ :
Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Таъмини барқ :
4.5V ~ 5.5V
Ҳарорати амалиётӣ :
-40°C ~ 85°C
Навъи монтаж :
Surface Mount
Бастаи / Парвандаи :
28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Бастаи дастгоҳҳои таҳвилкунанда :
28-SOIC